Hệ đo 3D tiếp xúc quang học Scanology NimProbe – i-Probe và i-Tracker không dây

NimProbe kết hợp i-Probe và i-Tracker để đo lỗ, cạnh, rãnh, điểm chuẩn và đặc tính hình học; hỗ trợ kết nối có dây hoặc không dây.

Hệ đo 3D tiếp xúc quang học Scanology NimProbe – i-Probe và i-Tracker không dây

Một số đặc tính kiểm tra nằm ở lỗ chuẩn, điểm khuất hoặc vị trí không thuận lợi để thu đủ dữ liệu quét. NimProbe sử dụng đầu dò tiếp xúc i-Probe được tracker quang học theo dõi để thu tọa độ các điểm này.

Hệ tích hợp dữ liệu đo trong DefinSight; tracker còn có thể dùng để quét bề mặt theo cấu hình. Cần phân biệt kết quả đo tiếp xúc với chế độ quét và xác nhận chức năng, đầu dò cùng phần mềm trong bộ máy.

Ứng dụng và cách dùng kết quả

Kiểm tra và điều chỉnh đồ gá

Đo các điểm chuẩn, lỗ và bề mặt chức năng bằng đầu dò rồi so sánh với danh nghĩa để xem sai lệch vị trí. Khi điều chỉnh đồ gá, cần định nghĩa hệ tọa độ ổn định và trình tự lấy điểm nhất quán. Kết quả hỗ trợ điều chỉnh; nghiệm thu vẫn dựa trên dung sai và phương án kiểm chứng đã thống nhất.

Chi tiết có lỗ chuẩn và vùng khó tiếp cận

Đầu dò dài và các lựa chọn kim/đoạn nối hỗ trợ tiếp cận điểm khuất. Chọn hình học đầu dò theo khoảng hở và hướng tiếp xúc, đồng thời bảo đảm các mục tiêu trên thân đầu dò đủ điều kiện được tracker nhận biết. Không coi bù che khuất là khả năng đo khi bị che hoàn toàn.

Quy trình triển khai đề xuất

  1. Lập danh sách đặc tính, chuẩn định vị và hướng tiếp cận; chọn kim, đoạn nối và cấu hình đầu dò.
  2. Bố trí tracker, kiểm tra tầm nhìn và thực hiện hiệu chuẩn/kiểm tra đầu dò theo hướng dẫn.
  3. Lấy điểm theo chiến lược phù hợp với từng đặc tính; bổ sung dữ liệu quét nếu cấu hình và bài toán yêu cầu.
  4. Phân tích hình học, lưu kết quả và điều kiện đo; kiểm chứng trên mẫu đại diện trước khi chuẩn hóa quy trình.

Điều kiện lựa chọn cấu hình

Cân nhắc NimProbe khi cần đo điểm/đặc tính ở vùng khó quét và di chuyển trong xưởng. Cần chọn đầu dò theo khả năng tiếp cận, khoảng cách tracking và yêu cầu sai số; không chỉ dựa vào chiều dài đầu dò. Chức năng quét của tracker phải được xác nhận cùng cấu hình, không mặc định thay thế mọi máy scanner.

Trao đổi bài toán với V-Proud

Gửi V-Proud bản vẽ hoặc ảnh chi tiết, kích thước tổng thể, đặc tính cần kiểm tra và dung sai, số lượng mẫu cùng điều kiện làm việc. Các thông tin này giúp lựa chọn cấu hình và thống nhất nội dung đánh giá trên mẫu đại diện.

V-Proud JSC
Hotline: 0896 555 247
Email: xinchao@v-proud.vn

Đo tiếp xúc được theo dõi quang học

i-Probe thu tọa độ tại các điểm chức năng trong trường nhìn tracker để xử lý lỗ, cạnh và rãnh.

Có lựa chọn kim và đoạn nối

Các cấu hình đầu dò hỗ trợ tiếp cận vị trí khuất; phải kiểm tra tính phù hợp và quy trình hiệu chuẩn theo cấu hình.

Kết nối linh hoạt

Hệ hỗ trợ có dây và không dây, cho phép chọn theo bố trí thao tác và yêu cầu triển khai.

Thông số và cấu hình NimProbe

Đặc tính Giá trị / điều kiện
Độ chính xác thể tích tại 3,5 m 0,059 mm
Độ chính xác thể tích tại 4,2 m 0,072 mm
Khoảng cách đo mỗi tracker Tới 4,2 m
Kích thước chi tiết khuyến nghị 0,1–6 m
Kích thước i-Probe 510 × 145 × 89 mm
Khối lượng i-Probe 700 g
Số mục tiêu trên đầu dò 16
Nhiệt độ / độ ẩm 0–45 °C / 10–90% RH, không ngưng tụ
Kết nối Có dây và không dây

Các giá trị độ chính xác thể tích được hãng nêu theo ISO 10360-2. Khoảng cách tracking, kích thước chi tiết khuyến nghị và khả năng tiếp cận bằng đầu dò là các khái niệm khác nhau; cần đánh giá cùng đồ gá và chiến lược đo.

SCANOLOGY và Scantech (Hangzhou)

SCANOLOGY là thương hiệu đo lường 3D công nghiệp của Scantech (Hangzhou) Co., Ltd., đặt tại Hàng Châu, Trung Quốc. Danh mục hãng gồm máy quét laser 3D cầm tay, hệ quét theo dõi quang học, hệ đo tiếp xúc và giải pháp đo tự động, cùng phần mềm xử lý dữ liệu.

Vị trí của NimProbe trong hệ giải pháp

NimProbe là hướng kết hợp đầu dò i-Probe với i-Tracker thế hệ mới trong hệ đo quang học của SCANOLOGY. Đây là hệ probing riêng; không áp nguyên thông số TrackProbe hay NimbleTrack cho NimProbe.

Zalo

(84) 896 555 247